c
型号: 开模晶振3225-4翻盖老化座 **: ANDK 产地: 中国大陆 适用场景: 测试 烧录 编程 老化 封装方式: 晶振 引脚数: 4个 测试座类型: 翻盖老化座 3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座 工厂**,接受批发、代理。 贴片晶振3225, 3.2*2.5mm -4pin晶振双面弹老化座 适用于有源晶振编程、烧录、老化 量大从优,欢迎咨询 3.2*2.5-4PIN晶振探针老化座 产品简介 A、产品用途:老化座、测试座,对3225(3.2*2.5)的晶振进行高低温老化测试 B、适用封装: 3225(3.2*2.5)-4PIN晶振 C、探针结构,接触更稳定、体积小。 D、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长、绝缘性好 E、镀金层加厚,触点加厚电镀,**低接触阻抗、高**度,使用寿命(翻盖结构20000次) F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD档 规格尺寸 A、型号: 3225(3.2×2.5mm)-4PIN B、脚位:4 C、芯片尺寸:3.2×2.5mm